文物考(kao)古高(gao)光譜相機(ji)正深(shen)刻(ke)變(bian)革傳(chuan)統考(kao)古與文物保護工(gong)作

　　壹、核(he)心(xin)技(ji)術優(you)勢(shi)

　　文物考(kao)古高(gao)光譜相機(ji)突(tu)破人(ren)眼與(yu)普(pu)通(tong)RGB相機(ji)的(de)局(ju)限(xian)，可(ke)捕(bu)捉(zhuo)肉眼(yan)不可(ke)見的(de)光譜特(te)征。例(li)如(ru)，不同礦物(wu)顏料(liao)（如(ru)石(shi)青、鉛(qian)白(bai)）在(zai)特(te)定(ding)波(bo)長下(xia)具(ju)有(you)獨特(te)反(fan)射率(lv)曲線(xian)；褪(tui)色(se)墨(mo)跡、被(bei)覆蓋的(de)壁(bi)畫底稿(gao)或古代墨(mo)書殘(can)片(pian)，常(chang)在(zai)近紅(hong)外波(bo)段顯現。這(zhe)種“光譜指紋”識(shi)別能(neng)力(li)，使研(yan)究者無(wu)需取(qu)樣(yang)即(ji)可(ke)完(wan)成(cheng)成(cheng)分推斷(duan)與(yu)年(nian)代(dai)輔(fu)助判斷(duan)。

　　二(er)、關(guan)鍵(jian)組成(cheng)與(yu)功能(neng)特(te)點

　　高(gao)光譜成(cheng)像模(mo)塊(kuai)：采(cai)用(yong)推掃(sao)式或快照(zhao)式傳(chuan)感(gan)器，空(kong)間(jian)分辨(bian)率(lv)可(ke)達(da)微(wei)米(mi)級(ji)，光譜分辨(bian)率(lv)＜5nm；

　　穩定(ding)光源系統：配(pei)備均(jun)勻(yun)鹵素燈或LED陣(zhen)列，避免自(zi)然(ran)光波(bo)動幹擾(rao)；

　　智能(neng)分析軟件：集(ji)成(cheng)光譜庫比(bi)對、主(zhu)成(cheng)分分析（PCA）、噪(zao)聲(sheng)分離(li)（MNF）等算法，自(zi)動提取(qu)隱藏(zang)信息；

　　便攜(xie)/臺式設(she)計：既(ji)有適(shi)用(yong)於(yu)野外遺(yi)址(zhi)的(de)輕(qing)量(liang)化(hua)機(ji)型，也(ye)有(you)用(yong)於(yu)實(shi)驗室(shi)的(de)高(gao)精(jing)度(du)平(ping)臺。

　　三(san)、典(dian)型應(ying)用(yong)場(chang)景(jing)

　　古書畫(hua)鑒(jian)定(ding)：揭示被(bei)覆蓋的(de)題(ti)款(kuan)、印(yin)章或修改痕(hen)跡，區(qu)分原作與摹本；

　　壁(bi)畫(hua)與彩(cai)繪陶(tao)器研(yan)究：識(shi)別顏(yan)料(liao)種類，評估(gu)風(feng)化(hua)程(cheng)度(du)，指導(dao)科學(xue)修復；

　　簡牘與(yu)帛(bo)書解(jie)讀(du)：在(zai)碳化(hua)、汙損嚴(yan)重的(de)竹簡上(shang)還原(yuan)模(mo)糊(hu)字跡；

　　金(jin)屬與陶(tao)瓷(ci)成(cheng)分分析：通(tong)過表(biao)面(mian)氧化層光譜特(te)征推(tui)斷(duan)冶(ye)煉(lian)工(gong)藝(yi)與(yu)產地(di)。

　　四(si)、無(wu)損與(yu)高(gao)效雙重價(jia)值

　　相比(bi)X射線(xian)熒光（XRF）或拉曼(man)光譜等點測(ce)技(ji)術，高(gao)光譜成(cheng)像可(ke)壹(yi)次(ci)性(xing)獲(huo)取(qu)整幅畫(hua)面(mian)的(de)全(quan)譜信息，效率(lv)更高(gao)；且(qie)無(wu)需輻(fu)射(she)或激光照(zhao)射(she)，對(dui)脆弱(ruo)文物（如(ru)絲綢(chou)、紙張(zhang)）極(ji)為友好(hao)，真正實(shi)現“觀(guan)其(qi)表，知其(qi)裏，不傷毫(hao)厘”。