Thorlabs積(ji)分(fen)球(qiu)光電(dian)二(er)極(ji)管(guan)功率(lv)探(tan)頭

產(chan)品(pin)簡(jian)介
Thorlabs光電二(er)極(ji)管(guan)功率(lv)探(tan)頭測(ce)量功率(lv)時(shi)不受(shou)光(guang)束均勻性(xing)、發(fa)散(san)角(jiao)、光束形狀(zhuang)或(huo)入(ru)射(she)角(jiao)的(de)影響(xiang)，所以(yi)非常(chang)適(shi)合(he)測(ce)量光纖光(guang)源與離軸(zhou)自(zi)由(you)空間(jian)光源。

產(chan)品(pin)型(xing)號(hao)：S140C

更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2026-01-07

廠(chang)商(shang)性(xing)質(zhi)：代理商(shang)

訪(fang)問(wen)量：2353

產(chan)品(pin)咨(zi)詢 13475860763

產(chan)品(pin)分(fen)類

PRODUCT CLASSIFICATION

激(ji)光控(kong)制(zhi)和(he)光(guang)學測(ce)量相(xiang)關(guan)

減振(zhen) 高(gao)壓(ya)放(fang)大(da)器(qi) 傳(chuan)感(gan)器(qi) 光束輪廓儀擴(kuo)束器(qi) 偏振(zhen)測(ce)量儀激光能(neng)量計頻(pin)率(lv)梳伺(si)服控(kong)制(zhi)器(qi) TEC溫控(kong)器(qi) 激光(guang)二極(ji)管(guan)溫(wen)控(kong)器(qi) 外(wai)差(cha)模塊自(zi)相(xiang)關(guan)儀偏移鎖(suo)相(xiang)伺(si)服器(qi) 擴(kuo)束鏡(jing) 激(ji)光(guang)束分析儀波長(chang)計激光(guang)功率(lv)計激光(guang)控(kong)制(zhi) 激(ji)光(guang)器(qi)及LED夾(jia)具(ju) 半導(dao)體(ti)激光(guang)器(qi)溫度(du)控(kong)制(zhi)器(qi)

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相(xiang)關(guan)文(wen)章

矽光電探測(ce)器(qi)的(de)分(fen)類

及(ji)時解決(jue)高光譜(pu)掃(sao)描系(xi)統故(gu)障才能(neng)保(bao)障所(suo)見即所(suo)得

SISKIYOU與Thor labs調(tiao)整(zheng)架產(chan)品(pin)參(can)數對(dui)比(bi)

激(ji)光(guang)的(de)基(ji)本(ben)性(xing)質(zhi)

詳細(xi)介紹(shao)在(zai)線留言(yan)

Thorlabs積分球光電二極(ji)管(guan)功率(lv)探(tan)頭
1.測(ce)量不受光(guang)束形狀(zhuang)和(he)入(ru)射(she)角(jiao)影響(xiang)
2.積分(fen)球作(zuo)為漫射(she)體(ti)，功率(lv)損(sun)耗(hao)極(ji)小(xiao)
3.Ø5 mm，Ø7 mm或(huo)Ø12 mm輸入(ru)孔徑
4.包含(han)可(ke)拆卸的(de)S120-FC光(guang)纖(xian)轉接件(jian)(FC/PC和FC/APC)
5.提供(gong)用於(yu)接頭(tou)光纖和(he)裸(luo)纖(xian)的(de)光(guang)纖(xian)轉接件(jian)(見下表(biao))

這些(xie)積(ji)分球光電(dian)二(er)極(ji)管(guan)功率(lv)探(tan)頭測(ce)量功率(lv)時(shi)不受(shou)光(guang)束均勻性(xing)、發(fa)散(san)角(jiao)、光束形狀(zhuang)或(huo)入(ru)射(she)角(jiao)的(de)影響(xiang)，所以(yi)非常(chang)適(shi)合(he)測(ce)量光纖光(guang)源與離軸(zhou)自(zi)由(you)空間(jian)光源。
我們的(de)積(ji)分(fen)球(qiu)光(guang)電(dian)二極管(guan)功率(lv)探(tan)頭的(de)波長(chang)範(fan)圍(wei)從(cong)可(ke)見光到(dao)近(jin)紅(hong)外(wai)。波長(chang)範(fan)圍(wei)從(cong)350 nm到(dao)2500 nm的(de)探(tan)頭(tou)使用基於Zenith® PTFE的(de)Ø1英(ying)寸(cun)或(huo)Ø2英寸(cun)單(dan)球(qiu)體(ti)，黑(hei)色外(wai)殼能(neng)將入(ru)射(she)孔徑周圍(wei)的(de)反(fan)射(she)光(guang)降到(dao)最(zui)少。這些(xie)探(tan)頭使用矽光電二極管(guan)探(tan)測(ce)350到(dao)1100 nm波段，或(huo)者使用銦鎵砷光電(dian)二極(ji)管(guan)探(tan)測(ce)800到(dao)1700 nm、900-1650 nm或(huo)1200-2500 nm波段。
S180C積分球用於(yu)2.9到(dao)5.5 µm波段，使用兩個相(xiang)連的(de)鍍(du)金(jin)Ø20 mm球體(ti)，入(ru)射(she)端(duan)口(kou)位於(yu)第(di)壹個(ge)球(qiu)，MCT(碲鎘(ge)汞)探(tan)測(ce)端口位(wei)於(yu)第(di)二個(ge)球。與單(dan)球(qiu)設(she)計相(xiang)比，雙球配置(zhi)減小了(le)內部(bu)球體(ti)表(biao)面(mian)積，同時有(you)效(xiao)防止(zhi)直接照(zhao)射(she)探(tan)測(ce)器(qi)，所以(yi)能(neng)夠(gou)改(gai)善器(qi)件(jian)靈(ling)敏度(du)。這種(zhong)設(she)計無需擋片或(huo)其(qi)它(ta)阻(zu)擋(dang)機制(zhi)就(jiu)能(neng)有(you)效(xiao)擋住(zhu)光(guang)電(dian)二(er)極(ji)管(guan)，所(suo)以測(ce)量結果受(shou)入(ru)射(she)角(jiao)、發(fa)散(san)角(jiao)和光(guang)束形狀(zhuang)的(de)影響(xiang)更(geng)小。
下(xia)面(mian)的(de)積(ji)分(fen)球(qiu)具(ju)有(you)Ø5 mm、Ø7 mm或(huo)Ø12 mm大孔徑、SM1(1.035"-40)外(wai)螺(luo)紋(wen)前端連(lian)接、強化(hua)的(de)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾屏蔽和(he)超(chao)溫報(bao)警(jing)傳(chuan)感(gan)器(qi)。這些(xie)探(tan)頭的(de)有(you)效(xiao)探測(ce)面(mian)積大，使用附帶的(de)S120-FC光(guang)纖(xian)轉接件(jian)可(ke)以連(lian)接FC/PC或(huo)FC/APC接頭(tou)光纖。這個(ge)SM1外(wai)螺(luo)紋(wen)轉接件(jian)可(ke)以用(yong)1號(hao)螺絲(si)刀拆除，從而使組件(jian)更(geng)靠近(jin)窗(chuang)口。可(ke)追(zhui)溯(su)至(zhi)NIST的(de)數據存儲(chu)在(zai)探頭(tou)的(de)接頭(tou)中。
每個(ge)探(tan)頭發(fa)貨(huo)時(shi)帶(dai)有(you)可(ke)追(zhui)溯(su)NIST或(huo)PTB校準數據。包含(han)的(de)數據與用(yong)於(yu)測(ce)試(shi)單(dan)個(ge)探(tan)頭的(de)光(guang)電(dian)二(er)極(ji)管(guan)校(xiao)準證書匹(pi)配。可(ke)追(zhui)溯(su)的(de)NIST或(huo)PTB數據存儲(chu)在(zai)探頭(tou)接頭(tou)中。Thorlabs為這些(xie)光(guang)電二極管(guan)功率(lv)探(tan)頭提(ti)供(gong)重新(xin)校(xiao)準服務，請在(zai)下方訂購(型號(hao)CAL-PD，用於(yu)矽探頭；型號(hao)CAL-IRPD，用於(yu)InGaAs探頭；型號(hao)CAL-MIRPD，用於(yu)延(yan)伸(shen)的(de)InGaAs或(huo)MCT探頭(tou))。

Thorlabs積分(fen)球光電二(er)極(ji)管(guan)功率(lv)探(tan)頭參(can)數詳(xiang)情(qing)