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激光控制和(he)光學測(ce)量(liang)相(xiang)關(guan)
激(ji)光(guang)束(shu)分(fen)析(xi)儀
SI100Thorlabs剪切幹涉儀,光束(shu)特(te)性(xing)分(fen)析(xi)



產品簡介(jie)
Thorlabs剪切幹涉儀,光束(shu)特(te)性(xing)分(fen)析(xi) 提供5種型號,光束(shu)直徑範(fan)圍從1到50 mm定(ding)性(xing)地確定(ding)光(guang)的(de)準(zhun)直性磁(ci)鐵球將(jiang)板(ban)固(gu)定(ding)在(zai)底(di)座上(shang)適用的(de)光(guang)束(shu)直徑刻(ke)在(zai)板(ban)上(shang)
產品(pin)分(fen)類(lei)
激光(guang)控制和(he)光學測(ce)量(liang)相(xiang)關(guan)
相(xiang)關(guan)文(wen)章(zhang)
提供5種型號,光束(shu)直徑範(fan)圍從1到50 mm
定(ding)性(xing)地確定(ding)光(guang)的(de)準(zhun)直性
磁(ci)鐵球將(jiang)板(ban)固(gu)定(ding)在(zai)底(di)座上(shang)
適用的(de)光(guang)束(shu)直徑刻(ke)在(zai)板(ban)上(shang)

楔(xie)形光(guang)學平板(ban)通(tong)過(guo)三(san)個磁塊(kuai)夾持住。
根(gen)據所用剪切板的(de)不(bu)同,剪切幹涉儀可用於(yu)直徑小(xiao)到1 mm、大(da)到50 mm的(de)入(ru)射光。剪切幹涉儀產生的(de)幹涉條紋對(dui)光束(shu)發(fa)散(san)很(hen)敏感(gan),因(yin)此(ci)可以用來定(ding)性(xing)地確定(ding)光(guang)是否準(zhun)直。如(ru)右圖(tu)所(suo)示(shi),剪切板有(you)三(san)個鋼球(qiu),以磁性吸附(fu)的(de)方(fang)式固(gu)定(ding)在(zai)板的(de)底(di)部(bu)。當采用不(bu)同直徑的(de)光(guang)束(shu)時(shi),這(zhe)種(zhong)磁性(xing)固(gu)位(wei)機制(zhi)易於更(geng)換不同的(de)平(ping)板(ban)。兼容(rong)的(de)平(ping)板(ban)和(he)底(di)座型號請查(zha)看規格標簽
此外,底(di)板(ban)的(de)背(bei)面(mian)鉆有(you)通(tong)孔(kong),因(yin)此(ci)可以使得透射光通(tong)過(guo)楔(xie)形光(guang)學平板(ban)繼續(xu)毫(hao)無zu 礙(ai)地傳(chuan)播。除(chu)了SI500,所有(you)型號的(de)通(tong)孔(kong)均(jun)為(wei)SM1螺紋(1.035"-40)。SI500的(de)通(tong)孔(kong)為(wei)Ø2.95英(ying)寸(Ø75 mm)滑孔(kong)。底(di)板(ban)、散(san)射屏(ping)和(he)剪切板包(bao)裝在壹個手(shou)提(ti)箱(xiang)內。
請註意(yi)由(you)於(yu)SI100、SI254和(he)SI500剪切板的(de)厚(hou)度(du)原因(yin),剪切板的(de)後表(biao)面(mian)會(hui)超(chao)出(chu)安裝板(ban)(如(ru)右圖(tu)所(suo)示(shi))。因(yin)此(ci),當插(cha)入(ru)或者(zhe)移(yi)除(chu)這(zhe)些(xie)板的(de)時(shi)候(hou)要(yao)格外小(xiao)心,尤(you)其(qi)是安裝(zhuang)了SICP或者(zhe)SICPSM1籠(long)式轉(zhuan)接板的(de)情(qing)況(kuang)下。
Thorlabs剪切幹涉儀,光束(shu)特(te)性(xing)分(fen)析(xi) | |||||||
| +1 | 數量 | 文(wen)檔(dang) | 產品型號 - 公英(ying)制通(tong)用 | ||||
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