應(ying)用(yong)於(yu)文化遺產領域(yu)的(de)智(zhi)能高(gao)光譜成(cheng)像解(jie)決方案(an)

應用於(yu)文化遺產領域(yu)的(de)智(zhi)能高(gao)光譜成(cheng)像解(jie)決方案(an)

高(gao)光譜成(cheng)像是檢(jian)測(ce)和(he)評(ping)估(gu)繪(hui)畫(hua)、文(wen)獻、掛毯等(deng)具(ju)有(you)歷(li)史意義的(de)文(wen)物(wu)的(de)強大工(gong)具(ju)。它(ta)通(tong)過捕捉(zhuo)物(wu)體每個像素處材(cai)料(liao)獨(du)特的(de)光(guang)譜“指(zhi)紋" 來工(gong)作， 因(yin)此在識(shi)別(bie)和(he)分(fen)析物(wu)體內部(bu)不同成(cheng)分(fen)方(fang)面(mian)極(ji)為高(gao)效。

這種(zhong)方法(fa)具(ju)有(you)非接(jie)觸、無(wu)損(sun)、快速的(de)特點(dian)， 對脆(cui)弱(ruo)文物(wu)而(er)言安全(quan)性ji高(gao)。它(ta)能夠實現(xian)精(jing)細(xi)化分(fen)析，包括識(shi)別(bie)化學(xue)成(cheng)分(fen)以(yi)及(ji)物(wu)體隨時(shi)間(jian)發(fa)生的(de)肉眼(yan)不可見(jian)的(de)變(bian)化。此(ci)外， 該(gai)技術(shu)可選定(ding)特定區域(yu)進(jin)行深(shen)入(ru)研究(jiu)， 無(wu)需(xu)對樣(yang)本重新測量，且(qie)采集的(de)數據(ju)可儲(chu)存起(qi)來供(gong)未來參(can)考。

傳(chuan)統成(cheng)像技術(shu)僅能測量(liang)物(wu)體的(de)尺(chi)寸、形狀和(he)紋(wen)理， 而(er)高(gao)光譜成(cheng)像則(ze)能揭示化學(xue)成(cheng)分(fen)、隱藏(zang)變(bian)化、老(lao)化程(cheng)度(du)等(deng)肉眼(yan)無法察(cha)覺的(de)細(xi)節。

因(yin)此，在遺產科學領域(yu)，光(guang)譜成(cheng)像已被gong認(ren)為壹種(zhong)安全(quan)、穩定(ding)且(qie)可靠的(de)方(fang)法，可(ke)用(yong)於(yu)識(shi)別(bie)文物(wu)內部成(cheng)分(fen)、確定其(qi)分(fen)布(bu)情況(kuang)與濃(nong)度(du) —— 這些(xie)成(cheng)分(fen)將(jiang)通(tong)過其(qi)光譜特征(zheng)被觀察(cha)， 並(bing)最終(zhong)完成(cheng)分(fen)類(lei)。

每壹套(tao) ClydeHSI 系(xi)統均(jun)設計(ji)為完(wan)整(zheng)的(de)端(duan)到端解(jie)決方案(an)，旨(zhi)在實現(xian)穩定(ding)、可靠、精(jing)準且(qie)可重復(fu)的(de)高(gao)光譜測(ce)量(liang)，同時(shi)能輕松(song)適配各類不(bu)同流(liu)程(cheng)。

這種(zhong)設計(ji)思(si)路確保用(yong)戶可(ke)在單(dan)壹系(xi)統內(nei)完成(cheng)高(gao)光譜成(cheng)像（HSI） 數據(ju)的(de)采(cai)集、顯(xian)示(shi)與(yu)分(fen)析， 並(bing)依(yi)托(tuo)清晰(xi)的(de)工(gong)作流(liu)程(cheng)實現(xian)快速周(zhou)轉(zhuan)，最終(zhong)以(yi)可(ke)靠性和(he)精(jing)準度(du)提(ti)供(gong)目(mu)標(biao)參數。

面(mian)向文(wen)化遺產科學的(de)ClydeHSI系(xi)統

ClydeHSI 文(wen)物(wu)掃描儀(yi)為文(wen)獻(xian)、繪(hui)畫(hua)、掛(gua)毯及三維器物(wu)的(de)精(jing)準高(gao)光譜測(ce)量(liang)提(ti)供(gong)了完整(zheng)解(jie)決方案(an)。每套(tao)系(xi)統均(jun)包含(han)所有必要(yao)組(zu)件(jian)： 光譜相(xiang)機(ji)、掃描(miao)平臺、照(zhao)明(ming)設備、對焦(jiao)靶標(biao)、反射(she)標(biao)準板(ban)，以(yi)及(ji)用於(yu)數據(ju)采集(ji)與分(fen)析的(de)軟(ruan)件(jian)。

該(gai)系(xi)列掃(sao)描儀(yi)操作簡(jian)便(bian)，不僅數據(ju)采集(ji)速度(du)快，還(hai)能自動調整(zheng)焦(jiao)距、曝(pu)光(guang)度(du)與(yu)掃(sao)描(miao)速度(du) 。系(xi)統提(ti)供(gong)多(duo)種(zhong)掃描(miao)配置(zhi)及五款相(xiang)機(ji)選項(xiang)，可靈活安裝於(yu)三腳(jiao)架、工作臺，也可作為大面(mian)積(ji)掃描儀使用(yong)。

這類(lei)掃描(miao)儀(yi)可搭載(zai)多達(da)兩臺光(guang)譜相(xiang)機(ji)， 能同時(shi)采(cai)集紫(zi)外、可見(jian)近(jin)紅(hong)外、近紅(hong)外或短(duan)波紅(hong)外波段(duan)的(de)光(guang)譜數據(ju)。相(xiang)機(ji)配備可更換(huan)鏡頭，適用於(yu)不同拍(pai)攝距離(li)與(yu)放(fang)大倍(bei)數， 因(yin)此非常(chang)適(shi)合高(gao)分(fen)辨率成(cheng)像場(chang)景(jing)，包括近距(ju)離觀測(ce)作業(ye)。

該(gai)系(xi)統可(ke)配備表面(mian)追(zhui)蹤功能， 能實時(shi)調(tiao)整(zheng)間(jian)距(ju)（掃(sao)描(miao)設備與樣本表面(mian)的(de)距(ju)離） ， 以(yi)適(shi)配不同形狀的(de)樣(yang)本及(ji)表面(mian)高(gao)度(du)變(bian)化 —— 即使在近(jin)距離拍(pai)攝時， 也無需(xu)重(zhong)新(xin)對焦(jiao)，從而(er)獲得(de)更優(you)的(de)空(kong)間(jian)分(fen)辨率。

每臺掃(sao)描(miao)儀交(jiao)付時均(jun)已完成(cheng)校準， 並(bing)附(fu)帶合(he)格證(zheng)書，確保其(qi)具(ju)備(bei)精(jing)準的(de)運(yun)行(xing)性能。

掃描(miao)儀(yi)適用(yong)指(zhi)南

底(di)圖可(ke)視(shi)化

繪(hui)畫(hua)顏(yan)料在可(ke)見光下通常呈(cheng)不透(tou)明(ming)狀態(tai)，但在近(jin)紅(hong)外與短(duan)波紅(hong)外光譜範圍(wei)內，往(wang)往(wang)會(hui)變(bian)得(de)半(ban)透(tou)明(ming)或wan全(quan)透(tou)明(ming)。這壹特性使得(de)通過該(gai)光譜範圍(wei)的(de)高(gao)光譜成(cheng)像技術(shu)，能夠揭示畫(hua)作表面(mian)下(xia)方的(de)隱藏(zang)圖層(ceng)、過往修(xiu)復(fu)痕跡以(yi)及(ji)底(di)圖。這些(xie)隱藏(zang)細節可為研究(jiu)提(ti)供(gong)關(guan)鍵(jian)線(xian)索，包括： 藝(yi)術(shu)品(pin)的(de)創(chuang)作過程(cheng)、保存(cun)與(yu)展(zhan)示歷(li)史、修(xiu)復(fu)歷(li)程(cheng)， 以(yi)及(ji)在真(zhen)偽(wei)鑒(jian)定中判斷(duan)所用材(cai)料(liao)是否(fou)符(fu)合(he)該(gai)時代(dai)或(huo)該(gai)藝(yi)術(shu)家(jia)的(de)典(dian)型特征(zheng)。

用於(yu)材料(liao)識(shi)別(bie)的(de)化學(xue)成(cheng)像測(ce)繪(hui)

高(gao)光譜成(cheng)像技術(shu)通過捕捉(zhuo)並(bing)分(fen)析寬光(guang)學(xue)光(guang)譜範圍(wei)內的(de)光(guang)線(xian)， 可(ke)檢(jian)測(ce)出(chu)材料獨(du)特的(de)化學(xue)特征(zheng)。 這壹能力使研究(jiu)人(ren)員能精(jing)準識(shi)別(bie)顏料、粘合劑(ji)及(ji)其(qi)他(ta)物(wu)質，還可(ke)揭示有(you)機(ji)與合(he)成(cheng)材料(liao)的(de)成(cheng)分(fen)構(gou)成(cheng)、發(fa)現(xian)修(xiu)復(fu)工作的(de)痕跡， 並(bing)檢(jian)測(ce)材(cai)料降解(jie)產(chan)物(wu)。這些(xie)化學(xue)特征(zheng)可作為參(can)考數據(ju)保存(cun)，用於(yu)對比(bi)分(fen)析其(qi)他(ta)物(wu)體的(de)相(xiang)似性與差(cha)異性。

狀態(tai)評估(gu)

高(gao)光譜成(cheng)像技術(shu)具(ju)備(bei)極gao的(de)靈敏度(du)， 能夠檢測出(chu)物(wu)體表面(mian)細(xi)微(wei)的(de)變(bian)化或(huo)隱患(huan) —— 這些(xie)變(bian)化 / 隱患(huan)往(wang)往(wang)無(wu)法通過肉眼(yan)或常規(gui)成(cheng)像手段(duan)識(shi)別(bie)。該(gai)技術(shu)通過及早(zao)發(fa)現(xian)問題(ti)，為文(wen)物(wu)保護（或物(wu)品養護） 工作提(ti)供(gong)支(zhi)持(chi)， 使相(xiang)關(guan)人(ren)員能夠及時采(cai)取幹預措(cuo)施(shi)，防止(zhi)損(sun)害進(jin)壹步(bu)擴(kuo)大。

該(gai)技術(shu)能夠檢測各(ge)類早(zao)期劣(lie)化問(wen)題(ti)， 例(li)如： 肉眼(yan)可見前(qian)的(de)顏(yan)料褪色(se)、物(wu)體表層(ceng)下方的(de)受(shou)潮損(sun)壞(huai)、多(duo)孔材(cai)料(liao)內部(bu)的(de)鹽分(fen)積(ji)聚(ju)、生物(wu)滋生的(de)早(zao)期跡象、粘(zhan)合劑(ji)老(lao)化變(bian)質(zhi)， 以(yi)及(ji)金屬器物(wu)與含(han)金屬顏(yan)料的(de)銹(xiu)蝕或氧化現(xian)象。

數據(ju)融(rong)合

ClydeHSI 系(xi)統配備多種(zhong)適用(yong)於(yu)不同成(cheng)像方(fang)式的(de)配件(jian)，例(li)如高(gao)分(fen)辨率攝影測(ce)量(liang)儀、拉(la)曼(man)光譜儀(yi)和(he)微(wei)聚(ju)焦(jiao) X 射(she)線(xian)熒(ying)光(guang)光(guang)譜儀(yi) 。所有這些(xie)傳(chuan)感器采集(ji)的(de)數據(ju)均(jun)可在 ClydeHSI 的(de) spectraSENS 軟(ruan)件(jian)中進(jin)行配準與聯合(he)分(fen)析， 並(bing)在定(ding)制開(kai)發(fa)的(de) “幕(mu)簾查(zha)看器"（curtain viewer） 中顯(xian)示， 以(yi)便(bian)直接對比(bi)多組(zu)數據(ju)集及(ji)分(fen)析結(jie)果(guo)。